產品[
谷物品質圖像分析系統(tǒng)
]資料
如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱:
谷物品質圖像分析系統(tǒng)
產品型號:
GE-XP
產品展商:
杭州大吉光電儀器有限公司
關注指數:2559
產品文檔:
無相關文檔
GE-XP谷物品質圖像分析系統(tǒng)應用圖像自動分析系統(tǒng)測定谷物雜質和不完善粒的檢測設備。適用于各類谷物的檢測。該系統(tǒng)集計算機技術與圖像處理技術于一體，通過CCD攝像機、進料機構、驅動機構和出料機構以及圖像自動采集系統(tǒng)
谷物品質圖像分析系統(tǒng)
的詳細介紹
GE-XP谷物品質圖像分析系統(tǒng)應用圖像自動分析系統(tǒng)測定谷物雜質和不完善粒的檢測設備。適用于各類谷物的檢測。該系統(tǒng)集計算機技術與圖像處理技術于一體，通過CCD攝像機、進料機構、驅動機構和出料機構以及圖像自動采集系統(tǒng)，經圖像處理和BP神經網絡的分類算法，達到對于標準麥、破損麥和異種糧霉變糧的自動識別。
主要性能指標：
1. 稻谷：未熟粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識別準確率≥95%
2. 小麥：破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識別準確率≥95%
3. 玉米：破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒、熱損傷粒。識別準確率≥95%
4. 大米：堊白粒率、粒型、黃粒米、堊白度。識別準確率≥95%
